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Les thèmes les plus forts dans cette sélection sont Mikrotechnologie et Innovation.
Source: CSEM
Description
Spezialisierte Analysen für die additive Fertigung und Elektronikkomponenten. Methoden umfassen Spektroskopie, Oberflächenanalyse und thermische Charakterisierung.
Idéal pour
Additive Fertigung, Elektronikentwicklung, Oberflächenoptimierung et Qualitätssicherung
Évaluation
Source: LOM GmbH
Description
Analyse von Oberflächen mittels GD-OES (Glimmentladungs-Spektrometrie), REM/EDX, XRD sowie Tribologie-Tests und elektrochemische Korrosionsstudien.
Idéal pour
Schichtdickenmessung, Tribologische Prüfungen, Korrosionsschutz et Regionale KMU in der Ostschweiz
Évaluation
Source: Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST
Description
Entwicklung und Prototyping von funktionalen Schichten mittels moderner Verfahren wie PVD, CVD und Plasmatechnik zur gezielten Modifizierung von Produktoberflächen.
Idéal pour
Forschung und Entwicklung, Prototyping, Dünnschichttechnik et Vakuumverfahren
Évaluation
| Comparer | Materialcharakterisierung für F&E | Oberflächen- und Materialcharakterisierung | F&E für funktionale Dünnschichtsysteme |
|---|---|---|---|
| Source | CSEM | LOM GmbH | Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST |
| Description | Spezialisierte Analysen für die additive Fertigung und Elektronikkomponenten. Methoden umfassen Spektroskopie, Oberflächenanalyse und thermische Charakterisierung. | Analyse von Oberflächen mittels GD-OES (Glimmentladungs-Spektrometrie), REM/EDX, XRD sowie Tribologie-Tests und elektrochemische Korrosionsstudien. | Entwicklung und Prototyping von funktionalen Schichten mittels moderner Verfahren wie PVD, CVD und Plasmatechnik zur gezielten Modifizierung von Produktoberflächen. |
| Idéal pour | Additive Fertigung, Elektronikentwicklung, Oberflächenoptimierung et Qualitätssicherung | Schichtdickenmessung, Tribologische Prüfungen, Korrosionsschutz et Regionale KMU in der Ostschweiz | Forschung und Entwicklung, Prototyping, Dünnschichttechnik et Vakuumverfahren |
| Action | |||
| Évaluation |
Si vous voulez commencer par l'option la plus équilibrée, je vous recommande :
"Materialcharakterisierung für F&E de CSEM."
Je l'ai choisi parce que Spezialisiert auf Hochtechnologiebereiche wie Mikroelektronik und modernste Fertigungsverfahren.