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The strongest themes across this short list are Mikrotechnologie and Innovation.
Source: CSEM
Description
Spezialisierte Analysen für die additive Fertigung und Elektronikkomponenten. Methoden umfassen Spektroskopie, Oberflächenanalyse und thermische Charakterisierung.
Best for
Additive Fertigung, Elektronikentwicklung, Oberflächenoptimierung and Qualitätssicherung
Rating
Source: Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST
Description
Entwicklung und Prototyping von funktionalen Schichten mittels moderner Verfahren wie PVD, CVD und Plasmatechnik zur gezielten Modifizierung von Produktoberflächen.
Best for
Forschung und Entwicklung, Prototyping, Dünnschichttechnik and Vakuumverfahren
Rating
Source: Központi Statisztikai Hivatal (KSH)
Description
Ein auf dem internationalen FORD-Standard basierendes Klassifizierungssystem zur statistischen Erfassung von Forschung und Entwicklung. Die Klassifikation erfolgt hierarchisch auf bis zu drei Ebenen und dient der Analyse von Forschungsausgaben und Personalressourcen.
Best for
Staatliche Statistik, Personalplanung im F&E Bereich, Finanzanalyse von Forschungsprojekten and Institutionelles Berichtswesen
Rating
| Compare | Materialcharakterisierung für F&E | F&E für funktionale Dünnschichtsysteme | K+F-Osztályozás (F&E-Klassifikation) |
|---|---|---|---|
| Source | CSEM | Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST | Központi Statisztikai Hivatal (KSH) |
| Description | Spezialisierte Analysen für die additive Fertigung und Elektronikkomponenten. Methoden umfassen Spektroskopie, Oberflächenanalyse und thermische Charakterisierung. | Entwicklung und Prototyping von funktionalen Schichten mittels moderner Verfahren wie PVD, CVD und Plasmatechnik zur gezielten Modifizierung von Produktoberflächen. | Ein auf dem internationalen FORD-Standard basierendes Klassifizierungssystem zur statistischen Erfassung von Forschung und Entwicklung. Die Klassifikation erfolgt hierarchisch auf bis zu drei Ebenen und dient der Analyse von Forschungsausgaben und Personalressourcen. |
| Best for | Additive Fertigung, Elektronikentwicklung, Oberflächenoptimierung and Qualitätssicherung | Forschung und Entwicklung, Prototyping, Dünnschichttechnik and Vakuumverfahren | Staatliche Statistik, Personalplanung im F&E Bereich, Finanzanalyse von Forschungsprojekten and Institutionelles Berichtswesen |
| Action | |||
| Rating |
If you want the most balanced option to start with, I recommend:
"Materialcharakterisierung für F&E from CSEM."
I picked this because Spezialisiert auf Hochtechnologiebereiche wie Mikroelektronik und modernste Fertigungsverfahren.