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The strongest themes across this short list are Mikrotechnologie and Innovation.
Source: CSEM
Description
Spezialisierte Analysen für die additive Fertigung und Elektronikkomponenten. Methoden umfassen Spektroskopie, Oberflächenanalyse und thermische Charakterisierung.
Best for
Additive Fertigung, Elektronikentwicklung, Oberflächenoptimierung and Qualitätssicherung
Rating
Source: LOM GmbH
Description
Analyse von Oberflächen mittels GD-OES (Glimmentladungs-Spektrometrie), REM/EDX, XRD sowie Tribologie-Tests und elektrochemische Korrosionsstudien.
Best for
Schichtdickenmessung, Tribologische Prüfungen, Korrosionsschutz and Regionale KMU in der Ostschweiz
Rating
Source: Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST
Description
Entwicklung und Prototyping von funktionalen Schichten mittels moderner Verfahren wie PVD, CVD und Plasmatechnik zur gezielten Modifizierung von Produktoberflächen.
Best for
Forschung und Entwicklung, Prototyping, Dünnschichttechnik and Vakuumverfahren
Rating
| Compare | Materialcharakterisierung für F&E | Oberflächen- und Materialcharakterisierung | F&E für funktionale Dünnschichtsysteme |
|---|---|---|---|
| Source | CSEM | LOM GmbH | Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST |
| Description | Spezialisierte Analysen für die additive Fertigung und Elektronikkomponenten. Methoden umfassen Spektroskopie, Oberflächenanalyse und thermische Charakterisierung. | Analyse von Oberflächen mittels GD-OES (Glimmentladungs-Spektrometrie), REM/EDX, XRD sowie Tribologie-Tests und elektrochemische Korrosionsstudien. | Entwicklung und Prototyping von funktionalen Schichten mittels moderner Verfahren wie PVD, CVD und Plasmatechnik zur gezielten Modifizierung von Produktoberflächen. |
| Best for | Additive Fertigung, Elektronikentwicklung, Oberflächenoptimierung and Qualitätssicherung | Schichtdickenmessung, Tribologische Prüfungen, Korrosionsschutz and Regionale KMU in der Ostschweiz | Forschung und Entwicklung, Prototyping, Dünnschichttechnik and Vakuumverfahren |
| Action | |||
| Rating |
If you want the most balanced option to start with, I recommend:
"Materialcharakterisierung für F&E from CSEM."
I picked this because Spezialisiert auf Hochtechnologiebereiche wie Mikroelektronik und modernste Fertigungsverfahren.